6/02 speaker：
本週邀請到 美國中佛羅里達大學 劉俊傑教授(IEEE Fellow)，前來進行中文演講。
機會難得，敬請踴躍出席。
講題與摘要如下：
Title：
Compact Modeling of Junction Failure in Semiconductor Devices Subject to Electrostatic Discharge Stresses
6/02 speaker：
本週邀請到 美國中佛羅里達大學 劉俊傑教授(IEEE Fellow)，前來進行中文演講。
機會難得，敬請踴躍出席。
講題與摘要如下：
Title：